晶振測試儀
產(chǎn)品簡介：
一、JT-100A是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。。 
具有PPM測量功能，預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動器生產(chǎn)企業(yè)，測試結(jié)果顯示直觀。
主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計 ，功能設(shè)定
   
二、主要技術(shù)指標(biāo)： 
  頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz 
  頻率測量靈敏度：25mv 
  PPm測量：10 Hz — 100 MHz 
  PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6） 
  （可擴(kuò)展0.1PPm ， 0.01 PPm） 
  中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定 
  誤差設(shè)置范圍設(shè)定： ± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。 
  閘門設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定， 
  1檔閘門1ms — 10s可設(shè)， 
  每1mS為一階梯任意設(shè)定。 
  周期測量范圍：100 ms — 10 s 
  時基頻率：10MC 
  晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日 
以上是晶體測試儀的詳細(xì)信息，如果您對晶體測試儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取晶體測試儀的最新信息。