名稱：XZK-613用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件、電子零組件、金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。 特點： 1.微電腦溫度控制器P.I.D.?+?P.W.M.?+?S.S.R.?控制LED數字顯示. 2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C. 3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉計時時間設定控制. 4.全自動安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置.. 主要技術參數： 測試槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm???3/4SET 加熱時間：RT～98℃About50min 溫度穩定度：±0.3℃ 內箱材質：304﹟不銹鋼 外箱材質：烤漆涂裝或304﹟不銹鋼符合標準：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…