㊣HP 8757C回收HP8757C標量網(wǎng)絡分析儀  

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標量網(wǎng)絡分析儀HP8757C，10MHz-110GHz
產(chǎn)品型號: 8757C
簡單介紹
●76dB動態(tài)范圍 ●精確掃描功率測量 ●40dB定向電橋 ●同軸系統(tǒng)工作到40GHz，波導系統(tǒng)工作到110GHz ●具有緩沖的繪圖儀/打印機輸出 ●外部磁盤和內(nèi)部寄存器儲存/調(diào)用 ●內(nèi)置極限測試 ●精密彩色顯示 HP8757C標量網(wǎng)絡分析儀可快速、精確地測量插入損耗、增益、回波損耗、駐波比及功率。HP8757C配用高性能的檢波器、定向電橋及配套的HP信號源與數(shù)字繪圖儀，就構(gòu)成一套具有極好性能的完整測量系統(tǒng)。 HP8757C的特點是具有三個檢波器(用選件001時有4個輸入)和四個獨立顯示通道，允許對器件的傳輸和反射特性同時進行等比或非等比測量，76dB的動態(tài)范圍(+16~-60dBm)適于測量高抑制度器件，并能選擇交流(方波調(diào)制)或直流檢測技術(shù)。內(nèi)部繪圖儀/打印機緩沖允許將測量數(shù)據(jù)直接發(fā)送至繪圖儀，然后再進行下面測量，典型情況下所需時間不到5秒鐘。HP8757C包括使用方便的用戶接口，能簡化儀器操作的菜單驅(qū)動和直接調(diào)用預置功能的按鍵。此外，HP8757C還具有極限測試、外部磁盤存儲/調(diào)用和彩色顯示。極限測試通過使分析儀迅速客觀地作出合格/不合格判定來縮短測試時間。外部磁盤存儲/調(diào)用使工程師或熟練專家能預先配置測量狀態(tài)，在由生產(chǎn)線上的技術(shù)人員自動加以調(diào)用，其結(jié)果是縮短了每個工位的調(diào)整時間并提高了測試的完整性。精細的彩色顯示能簡化對測量信息的分辨，同時提供使技術(shù)人員感到滿意的顯示。 從10MHz到110GHz的系統(tǒng) 通過訂購HP8757XA(10MHz~20GHz)或HP8757XB(10MHz~40GHz)標量測量系統(tǒng)，能很方便地建立起一個20GHz或40GHz的同軸測量系統(tǒng)。或者，可以將同軸系統(tǒng)配置到50GHz，將波導系統(tǒng)配置到110GHz。 HP8350B掃描振蕩器系列提供了一個可選信號源頻率和輸出功率的模塊系統(tǒng)。當對窄帶、選頻器件進行測試時，可從HP8360系列或8340B或8341B中選擇一臺合成掃頻源，這些掃頻源具有優(yōu)良的頻率穩(wěn)定性和達1Hz的頻率分辨率。 附件確保測量精度 使用帶有極好匹配的檢波器(HP85025E:>25dB回波損耗到25GHz)可以減小傳輸測量的不確定度。使用高方向性定向電橋(HP85027A,B,E: >40dB到20GHz, HP85027D: >25dB到47GHz)可以提高反射測量的精度。HP8757C配合一系列的高性能檢波器、定向橋和其它附件，可以減小測量時的誤差。 
標量網(wǎng)絡分析儀，10MHz-110GHz 的詳細介紹
特性 
顯示:彩色 
顯示通道:4 
檢波器輸入:3個標準輸入(用選件001時有4個輸入) 
動態(tài)范圍:76dB AC/DC檢波方式:有
測量點數(shù): 
可選值:101，201，401，801，1601 
顯示通道:3或4，2，1 
每通道最大點數(shù):401 801 1601 
繪圖儀/打印機緩沖器:有 
噪聲系數(shù)顯示功能:有 
外部磁盤存儲/調(diào)用:有 
內(nèi)部存儲/調(diào)用寄存器數(shù):9 
極限測試(1和2通道):有
自適應歸一化:有
光標搜索功能:最大點，最小點，帶寬，n dB 
駐波比顯示方式:有 
非標準掃描方式:有
輔助電壓顯示方式:有
系統(tǒng)特性 
精度 
傳輸損耗或增益測量精度:傳輸損耗或增益測量是相對于0dB參考點(在校準時建立的)進行。測量精度等于由于功率電平改變而產(chǎn)生的不確定度、動態(tài)精度加上失配不確定度。信號源、檢波器、電橋和功分器的頻率響應誤差通過校準可以去掉。
絕對功率測量精度:當使用HP85025A/B/D/E檢波器在DC模式，這種規(guī)格用于決定功率測量的精度(dBm)是有用的。總的不確定度是檢波器頻率響應、功率精度和失配不確定度的總和。 
動態(tài)范圍(所有的HP8757檢波器輸入)
檢波器 AC模式 DC模式
HP11664A/E +16~-60dBm  
HP11664D +10~-50dBm  
HP85025A/B/D/E +16~-55dBm +16~-50dBm
HPR/Q/U85026A +10~-50dBm +10~-45dBm
反射測量精度:不確定度是由于校準誤差和信號源、檢