手持式 X 射線熒光光譜儀保證了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是無與倫比的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著可以在短短 1 秒鐘內，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到準確測量，其速度之快，在從前是絕無可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。