腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的用途：

進(jìn)行循環(huán):鹽霧，干燥和潮濕

該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，以及各類金屬材料及其防護(hù)層在含鹽的潮濕環(huán)境下使用或貯存的適應(yīng)性。可以做腐蝕試驗(yàn)，也可以檢驗(yàn)非金屬材料受鹽霧影響而造成的劣化，還可用于考核元器件和設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的性能變化。
該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在人工模擬的海洋性氣候（鹽霧）條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。 腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征：

該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，以及各類金屬材料及其防護(hù)層在含鹽的潮濕環(huán)境下使用或貯存的適應(yīng)性。可以做腐蝕試驗(yàn)，也可以檢驗(yàn)非金屬材料受鹽霧影響而造成的劣化，還可用于考核元器件和設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的性能變化。
該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在人工模擬的海洋性氣候（鹽霧）條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。 腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的技術(shù)參數(shù)：腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的規(guī)格型號(hào)：

1、溫度范圍：（RT+10）~ 55℃±2℃
2、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
4、鹽霧沉降量：1~2ml/80cm2.h
5、鹽霧周期：1m~999.9h
6、試樣板安裝角度：150~300

型號(hào)規(guī)格 工作室尺寸(mm)

YWX/Q-150 500×630×450
YWX/Q-250 550×900×600
YWX/Q-750 750×1100×600
YWX/Q-010 1000×1300×600
YWX/Q-016 1000×1600×720
YWX/Q-020 1000×2000×900 腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的保護(hù)裝置：腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的使用環(huán)境：

1.電源超載、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.缺水保護(hù)
5.為保護(hù)設(shè)備，所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
　

1．溫度：15℃~35℃
2．相對(duì)濕度：不大于85%RH
3．周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7．試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8．試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。
　

腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境設(shè)備的滿足：

設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法—太陽輻射方法
GB/T 2423.17-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧
GB/T1771-1991 色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測(cè)定
GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
GB 10587-89 腐蝕試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕測(cè)試儀 環(huán)境技術(shù)條件
GB 10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GJB 4.11-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 鹽霧（Ka）
SC/T 7002.6-1992 船用電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 鹽霧（Ka）
SC/T 7002.7-1992 船用電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 交變鹽霧（Kb）
GJB150.11-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)
GB/T12000-2003 塑料暴露于濕熱、水噴霧和鹽霧中影響的測(cè)定
GJB 715.1-1989 緊固件試驗(yàn)方法 鹽霧
QJ2027-1990 金屬鍍覆層耐鹽霧試驗(yàn)方法