日本大冢積分球光通量測試系統

大塚電子（Otsuka Electronics)，是世界知名光譜測量公司，在光測量領域具有30多年的專業經驗，專為全球客戶提供高精度、高穩定性的光學檢測設備。大塚電子的客戶涵蓋上千家LED、LCD 相關生產企業、大學、研究單位及檢測機構。大塚電子在2010財年收入8千萬美元，是日本、韓國、臺灣LED/LCD檢測設備的標桿企業。

系統功能

　  　由大塚電子集成的本系統是專業滿足于照明光源的綜合性能測試系統。可測量的參數包括照明光源或燈具的：光通量，光譜分布，色度特性（CCT Ra x，y u，v 等等）、電參數（電壓、電流、功率，功率因數），光效（用于能效評估的核心參數）等，該系統在照明光源或燈具光源的光、電、色參數的測試方面具有突出的優勢。

系統所符合的部分國際及國內測試標準：

※GB 25991-2010                汽車用LED前照燈

※GB 15766.1-2000/IEC 60809：1995      道路機動車輛燈絲燈泡尺寸、光電性能要求

※GB/T 26178-2010            光通量的測量方法

※GB/T 26180-2010            光源顯色性的表示和測量方法

※GB/T 7922                        照明光源顏色的測量方法

※GB/T 24824-2009            普通照明用LED模塊測試方法

※ECE R37 關于機動車及其掛車燈具認證用燈絲燈泡認證的統一規定

※ANSI C78.377-2008        Specifications for the Chromaticity of Solid State LightingProducts

※CIE Pub. No. 13.3-1995  Method of Measuring and Specifying Color Rendering of Light Sources

※CIE 15: 2004                      Chromaticity and Correlated Color Temperature

※IESNA LM-16                        Correlated Color Temperature

※IESNA LM-58-94                  Color Rendering Index and Correlated Color Temperature

※IESNA LM-79-08                  Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products

測定參數

測定波長范圍：360～830ｎｍ（3683C）

光譜數據，色品參數等

測定光通量范圍：35000lm

光源功率等

光效值（光源能效評估的參數）

系統組成及構成圖

1.系統構成：

對應不同的測試光源，比如熒光燈，高壓鈉燈，LED球泡燈等等，按光源所發出的光通量大小以及功率大小，可選配不同尺寸的積分球來滿足測試的需求。

2.系統結構示意圖

具體性能參數

1.MCPD-9800高精度光譜儀特性

光譜儀采用多項專利技術（CN1444722A， CN1541331A），雜散光是一般光譜儀的1/5。

采用世界頂級的日本濱松薄型背照式(Back-thinned)面陣CCD，擁有極高的靈敏度和信噪比，最短曝光時間為5毫秒；

CCD采用背照及制冷式設計，制冷溫度低至-10℃，有效降低了熱噪音，保證了系統的穩定性。

光譜儀配置高性能中性濾光片（ND filter），多種量程測量模式，擁有業內領先的動態檢測范圍（1000000:1），可滿足多種測量需求（從微弱的熒光到5000W的大功率光源）

采用多核纏繞的特殊光纖，測量信號不隨光纖移動或入射光方向改變而發生漂移，有效降低了不同樣品測試時的系統誤差。

光纖配有特殊的信號處理盒，有效過濾了入射光經過光纖時產生的噪音。

測試軟件，可同時觀測各種參數，使用簡單。

采用耐腐蝕合金外殼，結構緊湊，方便耐用。

具體參數請見下表：

　　光譜儀          MCPD 9800-VIS

　　探測器  TE Cooled 1024X122 CCD

　　致冷  -10±0.05℃

　　光譜范圍  360 - 830 nm

　　光柵規格  f=85.8mm 448grooves/mm

　　曝光時間:  5 msec - 20 msec

                            (option:5msec to 65 sec)

　　ND 濾光片:  OD1-2

　　分辨率  0.5 nm (1024ch) <