適用于光學、半導體及FPD應用—島津UV-VIS-NIR分光光度計 是一款頂級的高靈敏度分光光度計，可進行深紫外區檢測，具備大樣品室，可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。 FPD： 材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。 半導體： 短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區測定。 光通信： 減反射膜NIR高靈敏度測定。 光學： 從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。 SolidSpec-3700/3700DUV特點 高靈敏度 SolidSpec-3700和3700DUV是第一臺使用3個檢測器的分光光度計：光電倍增管（PMT）探測器檢測紫外區和可見光區，近紅外區使用InGaAs 和 PbS檢測器。InGaAs 和 PbS檢測器的使用使得近紅外區域的靈敏度顯著增強。 深紫外區檢測 SolidSpec-3700DUV具有檢測深紫外區的能力，可測定至165nm或175nm的積分球。此檢測是用氮氣吹掃光室和樣品室進行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測定）的最短波長。 大樣品室 大樣品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進行檢測。其垂直光路可直接測量大樣品同時保持它們的水平狀態。使用自動X-Y樣品臺（選配）測定樣品的尺寸是12英寸或310??310mm。 聯系人 區經理 電話 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區八卦三路88號榮生大廈702室 固定電話：0755-25870896 網址 www.ges-tech.cn